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Dieser Artikel bezieht sich auf die Messung des elektrischen Widerstands von Flachen oder dunnen Schichten Die Messung sonstiger nicht flachenhafter elektrischer Widerstande mit vier Anschlussen wird unter Vierleitermessung behandelt Die Vierpunktmethode auch Vierpunktmessung oder Vierspitzenmessung ist ein Verfahren um den Flachenwiderstand also den elektrischen Widerstand einer Oberflache oder dunnen Schicht zu ermitteln Beschreibung Bearbeiten nbsp Anordnung der MessspitzenVier Messspitzen werden in einer Reihe auf die Oberflache gebracht um den elektrischen Widerstand zu bestimmen Uber die beiden ausseren Spitzen fliesst ein kontrollierter Strom wahrend uber den beiden inneren der Potentialunterschied bzw die elektrische Spannung gemessen wird Da das Verfahren auf dem Prinzip der Vierleitermessung beruht ist es weitgehend unabhangig vom Ubergangswiderstand zwischen den Messspitzen und der Oberflache Prinzip Thomson Brucke Je dichter die Spitzen dem Rand der Probe kommen desto mehr wird die Messung verfalscht Die elektrischen Stromlinien konnen sich nicht frei ausbreiten sie mussen parallel zum Rand der Probe fliessen Wenn benachbarte Messspitzen jeweils den gleichen Abstand haben erhalt man den Flachenwiderstand R displaystyle R Box nbsp aus der gemessenen Spannung U displaystyle U nbsp und dem Strom I displaystyle I nbsp mittels R p ln 2 U I 4 532 U I displaystyle R Box frac pi ln 2 frac U I approx 4 532 frac U I nbsp Diese Formel gilt jedoch nur im Idealfall einer im Vergleich zum Spitzenabstand sehr dunnen unendlich ausgedehnten Oberflache mit homogenem Widerstandsverhalten Diese Messmethode ist an verschiedene Voraussetzungen gebunden Die Schichtdicke muss sehr viel kleiner als der Abstand der Spitzen sein typischerweise 1 mm Die Gesamtflache der Schicht muss unendlich gross gegenuber dem Abstand der Spitzen sein Die Unterlage muss elektrisch isolierend sein sodass der Strom nur durch die Schicht fliesst Bei Halbleiterwafern ist diese Bedingung auch erfullt wenn Schicht und Unterlage entgegengesetzt dotiert sind da dann die Grenzschicht als Isolator dient Vierpunktmessungen werden beispielsweise in der Halbleitertechnologie eingesetzt um den Flachenwiderstand einer auf den Halbleiter aufgebrachten Schicht zu bestimmen dabei kann jedoch die Schicht durch die Messspitzen beschadigt werden Um aus dem Flachenwiderstand R displaystyle R Box nbsp den spezifischen Widerstand r displaystyle rho nbsp des Schichtmaterials zu errechnen multipliziert man ihn mit der Schichtdicke d displaystyle d nbsp r d R displaystyle rho d cdot R Box nbsp Diese Gleichung gilt dann nur wenn es sich um eine quadratische Probe mit der Bedingung l b displaystyle l b nbsp die Lange l displaystyle l nbsp ist gleich der Breite b displaystyle b nbsp der zu messenden Schicht bzw Probe handelt Zur Bestimmung des spezifischen Widerstandes einer Schicht bzw deren Flachenwiderstandes bei beliebiger Anordnung der Messkontakte wurde die Van der Pauw Messmethode entwickelt Anwendung BearbeitenDie Vierpunktmethode ist die Standardmessmethode zur Bestimmung der elektrischen Leitfahigkeit in der Halbleiterindustrie Halbleitertechnik Photovoltaik usw Weblinks BearbeitenErklarung auf der Website von ICR Jena Abgerufen von https de wikipedia org w index php title Vier Punkt Methode amp oldid 221980967